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インパルス性電磁雑音の自動測定に関する研究(III) : 放射電磁雑音のデイジタル回路基板への誘導
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/7856
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/7856423f63a5-cb26-428a-a8f7-55a3872e1bc4
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00005781242.pdf (612.9 kB)
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| Item type | 紀要論文(ELS) / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1993-01-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | インパルス性電磁雑音の自動測定に関する研究(III) : 放射電磁雑音のデイジタル回路基板への誘導 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Research on an Automatic Measurement of Impulse Electromagnetic Niose (III) : Induction of Radiated Electromagnetic Noise to Digital Circuit Board | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | electromagnetic interference | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | printed circuit board | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | electro-magnetic immunity | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | electromagnetic noise | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| ページ属性 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | P(論文) | |||||
| 著者名(日) |
佐野, 博也
× 佐野, 博也× 千葉, 孝二× 松本, 史生 |
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| 著者名よみ | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 42268 | |||||
| 姓名 | サノ, ヒロヤ | |||||
| 著者名よみ | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 42269 | |||||
| 姓名 | チバ, コウジ | |||||
| 著者名よみ | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 42270 | |||||
| 姓名 | マツモト, フミオ | |||||
| 著者名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 42271 | |||||
| 姓名 | SANO, Hiroya | |||||
| 言語 | en | |||||
| 著者名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 42272 | |||||
| 姓名 | CHIBA, Koozi | |||||
| 言語 | en | |||||
| 著者名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 42273 | |||||
| 姓名 | MATUMOTO, Fumio | |||||
| 言語 | en | |||||
| 著者所属(日) | ||||||
| 値 | 福山大学工学部電子・電気工学科 | |||||
| 著者所属(日) | ||||||
| 値 | 福山大学工学部電子・電気工学科 | |||||
| 著者所属(日) | ||||||
| 値 | 福山大学工学部電子・電気工学科 | |||||
| 抄録(英) | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | This paper reports on electromagnetic noise immunity among different series of TTL-ICs. Each are mounted on a printed circuit board located adjacent to a small loop antenna driven by a sinusoidal wave of 100 MHz. Noise voltage was measured at an output of a TTL gate, of which logic state was fixed at "low" or "high". The noise voltage at its "low" state was larger than that of "high" state, because internal resistance of a TTL gate at "low" state is smaller than that at "high" state. The susceptibilities of TTLs of different series were compared using a TEM cell at frequency range of 10 to 500 MHz. As a result, the higher the speed of TTL was, the more the noise voltage increased, especially at the resonance frequency of a loop formed by printed traces, an 1C and a load. The electromagnetic immunity of AS-TTL was found 10 dB higher than that of LS-TTL. | |||||
| 雑誌書誌ID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00217655 | |||||
| 書誌情報 |
福山大学工学部紀要 巻 15, p. 9-16, 発行日 1993 |
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