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WBFC法による半導体イミュニティ測定に関する実験的検討
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/8167
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/816708d9428b-b20c-4690-82e4-c82d97ddef2d
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00005781563.pdf (894.0 kB)
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| Item type | 紀要論文(ELS) / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2004-12-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | WBFC法による半導体イミュニティ測定に関する実験的検討 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Experimental Study of WBFC method for testing electromagnetic immunity of integrated circuits | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | WBFC法 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | コモンモード | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | オペアンプ | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | イミュニティ | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 集積回路 | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | WBFC method | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | common mode | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | operational amplifier | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | immunity | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | integrated circuits | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| ページ属性 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | P(論文) | |||||
| 著者名(日) |
香川, 直己
× 香川, 直己 |
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| 著者名よみ | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 43830 | |||||
| 姓名 | カガワ, ナオキ | |||||
| 著者名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 43831 | |||||
| 姓名 | KAGAWA, Naoki | |||||
| 言語 | en | |||||
| 著者所属(日) | ||||||
| 値 | 福山大学工学部電子・電気工学科 | |||||
| 著者所属(英) | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 値 | Department of Electronic and Electrical Engineering, Faculty of Engineering, Fukuyama University | |||||
| 抄録(英) | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | The author made a workbench faraday cage, WBFC, in order to estimate performance of the WBFC method for the measurement of common mode noise immunity of integrated circuits. In this report, characteristics of the constructed workbench faraday cage and results of experimental study of effects of the common mode noise on a circuit board including an electronic device are shown. Selected DUT, LM324 is popular operational amplifier for electrical circuits in vehicles. | |||||
| 雑誌書誌ID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00217655 | |||||
| 書誌情報 |
福山大学工学部紀要 巻 28, p. 31-37, 発行日 2004-12 |
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