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  1. 学内発行誌
  2. 工学部
  3. 工学部紀要
  4. 27

残留磁化を用いた漏洩磁束法による非破壊検査の有限要素解析

https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/8148
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/8148
5a1e3f8b-5ce2-486c-b893-9f0fe10241ad
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00005781544.pdf KJ00005781544.pdf (382.0 kB)
Item type 紀要論文(ELS) / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2003-12-01
タイトル
タイトル 残留磁化を用いた漏洩磁束法による非破壊検査の有限要素解析
タイトル
タイトル Finite Element Analysis of Nondestructive Testing by Leakage Flux Method Using Remanent Magnetism
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 remanent magnetism
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 leakage magnetic flux testing
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 nondestructive testing
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 finite element method
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 magnetic field analysis
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
ページ属性
内容記述タイプ Other
内容記述 P(論文)
著者名(日) 坪井, 始

× 坪井, 始

WEKO 43730

坪井, 始

Search repository
瀬島, 紀夫

× 瀬島, 紀夫

WEKO 43731

瀬島, 紀夫

Search repository
田中, 始男

× 田中, 始男

WEKO 43732

田中, 始男

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著者名よみ
識別子Scheme WEKO
識別子 43733
姓名 ツボイ, ハジメ
著者名よみ
識別子Scheme WEKO
識別子 43734
姓名 セシマ, ノリオ
著者名よみ
識別子Scheme WEKO
識別子 43735
姓名 タナカ, モトオ
著者名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 43736
姓名 TSUBOI, Hajime
言語 en
著者名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 43737
姓名 SESHIMA, Norio
言語 en
著者名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 43738
姓名 TANAKA, Motoo
言語 en
著者所属(日)
値 福山大学工学部情報処理工学科
著者所属(日)
値 福山大学情報処理センター
著者所属(日)
値 福山大学工学部情報処理工学科
著者所属(英)
言語 en
値 Department of Information Processing Engineering, Faculty of Engineering, Fukuyama University
著者所属(英)
言語 en
値 Fukuyama University
著者所属(英)
言語 en
値 Department of Information Processing Engineering, Faculty of Engineering, Fukuyama University
抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Magnetic field analysis of nondestructive testing using remanent magnetism was performed by using two-dimensional finite element method. A leakage flux method using remanent magnetism is applied to magnetic material as nondestructive testing method. The remanent magnetism is approximated by equivalent magnetizing electric current. And we assumed that the remanent magnetization is in proportion to the magnetization in the magnetizing process. Formulation of the finite element method using magnetization is described. A simple model was used to confirm the applicability of the leakage flux method using remanent magnetism. It became clear that small lift-off of probe was required to detect small defects because magnetic field induced by the remanent magnetism decreased rapidly with distance from the defect.
雑誌書誌ID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00217655
書誌情報 福山大学工学部紀要

巻 27, p. 199-203, 発行日 2003-12
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Ver.1 2023-06-19 10:29:27.470227
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