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インパルス性電磁雑音の自動測定に関する研究(IV) : 誘導雑音電磁界と回路の誤動作の関係
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/7876
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/787697b4f623-8b05-4b6e-9a3d-05589bdad0ae
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00005781262.pdf (792.3 kB)
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| Item type | 紀要論文(ELS) / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1993-01-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | インパルス性電磁雑音の自動測定に関する研究(IV) : 誘導雑音電磁界と回路の誤動作の関係 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Research on an Automatic Measurement of Impulse Electromagnetic Noise (IV) : Relation of Electromagnetic Induction Noise and Malfunction of Print Circuits | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | digital circuit | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | electromagnetic susceptibility | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | printed circuit board | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | circuit resonance | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | induced noise | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | malfunction | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| ページ属性 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | P(論文) | |||||
| 著者名(日) |
佐野, 博也
× 佐野, 博也× 松本, 史生 |
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| 著者名よみ | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 42356 | |||||
| 姓名 | サノ, ヒロヤ | |||||
| 著者名よみ | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 42357 | |||||
| 姓名 | マツモト, フミオ | |||||
| 著者名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 42358 | |||||
| 姓名 | SANO, Hiroya | |||||
| 言語 | en | |||||
| 著者名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 42359 | |||||
| 姓名 | MATUMOTO, Fumio | |||||
| 言語 | en | |||||
| 著者所属(日) | ||||||
| 値 | 福山大学工学部電子・電気工学科 | |||||
| 著者所属(日) | ||||||
| 値 | 福山大学工学部電子・電気工学科 | |||||
| 抄録(英) | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | Experimental studies were made on electromagnetic susceptibility and malfunction of high speed CMOS digital printed circuit boards (PCB). We measured the induced noise voltage on a printed loop circuit caused by electromagnetic emission from an adjacent digital PCB. Electromagnetic susceptibility of a bus circuit was measured with a TEM cell in frequency range of 10 to 250 MHz. The induced noise increased near the resonance frequency of the circuit. We also measured the amplitude of noise voltage on a signal line that causes malfunction of a digital circuit, and the result shows that the marginal voltage depends on the supply voltage of CMOS circuit and the noise frequency. | |||||
| 雑誌書誌ID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00217655 | |||||
| 書誌情報 |
福山大学工学部紀要 巻 16, p. 1-8, 発行日 1993 |
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