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  1. 学内発行誌
  2. 工学部
  3. 工学部紀要
  4. 13

インパルス性電磁雑音の自動測定に関する研究 : ディジタル基板からの放射雑音の測定

https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/7809
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/7809
10dfac01-fef8-46ae-a2e9-e775c0f30bcd
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00005781182.pdf KJ00005781182.pdf (809.7 kB)
Item type 紀要論文(ELS) / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 1991-01-01
タイトル
タイトル インパルス性電磁雑音の自動測定に関する研究 : ディジタル基板からの放射雑音の測定
タイトル
タイトル Reserch on an Automatic Measurement of Impulse Electromagnetic Noise : Measurement of RF Magnetic Noise Radiated by Print Circuit Board (PCB)
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 electromagnetic interference
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 printed circuit board
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 multilayer
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 digital
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 induced noise
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
ページ属性
内容記述タイプ Other
内容記述 P(論文)
著者名(日) 佐野, 博也

× 佐野, 博也

WEKO 42050

佐野, 博也

Search repository
池田, 龍彦

× 池田, 龍彦

WEKO 42051

池田, 龍彦

Search repository
著者名よみ
識別子Scheme WEKO
識別子 42052
姓名 サノ, ヒロヤ
著者名よみ
識別子Scheme WEKO
識別子 42053
姓名 イケダ, タツヒコ
著者名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 42054
姓名 SANO, Hiroya
言語 en
著者名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 42055
姓名 IKEDA, Tatsuhiko
言語 en
著者所属(日)
値 福山大学工学部電子・電気工学科
著者所属(日)
値 福山大学工学部電子・電気工学科
抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 This paper reports on an automatic measurement of RF magnetic noise distribution radiated by PCB. Two-dimension distribution of RF magnetic noise was measured for a four-layer printed circuit board with a small loop antenna on a plane 20 mm distant from the board as well as a two-layer printed circuit board. As a result, a component perpendicular to the board is larger than a parallel component in the vicinity of PCBs. In an EMI aspect the perpendicular magnetic field is more hazardous than others because it causes larger induction on an adjacent PCB. In order to examine the induction noise on an actual PCB, an ad hoc induction-test board was prepared that comprises only a TTL NAND gate IC. RF voltage, which is caused by induction on a loop composed of the IC and a bypass capacitor, was measured at an output of a NAND through FET probe circuit. An induction noise was found large when the output level was H, whereas no significant noise was found at L level.
雑誌書誌ID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00217655
書誌情報 福山大学工学部紀要

巻 13, p. 1-10, 発行日 1991
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Ver.1 2023-06-19 10:35:49.295361
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