WEKO3
インデックスリンク
アイテム
インパルス性電磁雑音の自動測定に関する研究 : ディジタル基板からの放射雑音の測定
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/7809
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/780910dfac01-fef8-46ae-a2e9-e775c0f30bcd
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
![]() |
|
Item type | 紀要論文(ELS) / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
公開日 | 1991-01-01 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | インパルス性電磁雑音の自動測定に関する研究 : ディジタル基板からの放射雑音の測定 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | Reserch on an Automatic Measurement of Impulse Electromagnetic Noise : Measurement of RF Magnetic Noise Radiated by Print Circuit Board (PCB) | |||||
言語 | en | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
キーワード | ||||||
言語 | en | |||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | electromagnetic interference | |||||
キーワード | ||||||
言語 | en | |||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | printed circuit board | |||||
キーワード | ||||||
言語 | en | |||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | multilayer | |||||
キーワード | ||||||
言語 | en | |||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | digital | |||||
キーワード | ||||||
言語 | en | |||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | induced noise | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
ページ属性 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | P(論文) | |||||
著者名(日) |
佐野, 博也
× 佐野, 博也× 池田, 龍彦 |
|||||
著者名よみ | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 42052 | |||||
姓名 | サノ, ヒロヤ | |||||
著者名よみ | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 42053 | |||||
姓名 | イケダ, タツヒコ | |||||
著者名(英) | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 42054 | |||||
姓名 | SANO, Hiroya | |||||
言語 | en | |||||
著者名(英) | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 42055 | |||||
姓名 | IKEDA, Tatsuhiko | |||||
言語 | en | |||||
著者所属(日) | ||||||
値 | 福山大学工学部電子・電気工学科 | |||||
著者所属(日) | ||||||
値 | 福山大学工学部電子・電気工学科 | |||||
抄録(英) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | This paper reports on an automatic measurement of RF magnetic noise distribution radiated by PCB. Two-dimension distribution of RF magnetic noise was measured for a four-layer printed circuit board with a small loop antenna on a plane 20 mm distant from the board as well as a two-layer printed circuit board. As a result, a component perpendicular to the board is larger than a parallel component in the vicinity of PCBs. In an EMI aspect the perpendicular magnetic field is more hazardous than others because it causes larger induction on an adjacent PCB. In order to examine the induction noise on an actual PCB, an ad hoc induction-test board was prepared that comprises only a TTL NAND gate IC. RF voltage, which is caused by induction on a loop composed of the IC and a bypass capacitor, was measured at an output of a NAND through FET probe circuit. An induction noise was found large when the output level was H, whereas no significant noise was found at L level. | |||||
雑誌書誌ID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN00217655 | |||||
書誌情報 |
福山大学工学部紀要 巻 13, p. 1-10, 発行日 1991 |