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絶縁破壊電圧分布と熱劣化による変化
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/7659
https://fukuyama-u.repo.nii.ac.jp/records/7659c2dc5d57-8e0a-49e8-a526-49e0b0ab26e2
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00005780982.pdf (430.5 kB)
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| Item type | 紀要論文(ELS) / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1983-01-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 絶縁破壊電圧分布と熱劣化による変化 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Distribution of the Breakdown Voltage and its Thermal Worsen | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| ページ属性 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | P(論文) | |||||
| 記事種別(日) | ||||||
| 値 | 研究報告 | |||||
| 記事種別(英) | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 値 | Technical Paper | |||||
| 著者名(日) |
飯田, 義直
× 飯田, 義直 |
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| 著者名よみ | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 41504 | |||||
| 姓名 | イイダ, ヨシナオ | |||||
| 著者名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 41505 | |||||
| 姓名 | IIDA, Yoshinao | |||||
| 言語 | en | |||||
| 著者所属(日) | ||||||
| 値 | 福山大学工学部電子電気工学科 | |||||
| 抄録(英) | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | Distribution of the polyethylene-terephtalate film capacitors breakdown voltage is the minimum double exponential extreme value at the early period. When the heat worsen the property of the insulation film, the distribution of the breakdown voltage change to the maximum double exponential extreme value. The relation between the mode V_o of the breakdown voltage distribution and the temperature T (absolute temperature) is shown in next formula. V_o=A・exp (B/T), A and B is constant number. At the minimum extreme value distribution, relation between the breakdown voltage V and the probability F(V) having the breakdown voltage higher than V, is indicated in next formula. F(V)=exp. [(-exp. α(V-V_o))], where V_o is mode value. | |||||
| 雑誌書誌ID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00217655 | |||||
| 書誌情報 |
福山大学工学部紀要 巻 5, p. 1-6, 発行日 1983 |
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